椭圆偏振测厚仪 偏振测厚仪 测厚仪 型号：TP-TPY-1

在近代科学的许多领域中对薄膜的研究和应用日益。因此，加和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得加迫切和重要。在实际工作中可以利用传统的方法测定光学参数，如：布儒斯特角法测介质膜的折射率，干涉法测膜厚，其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、度高、非破坏性测量等优点，因而，椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、医学等诸多领域得到应用。