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| 产品名称： | HHY8-FZ-2010 半导体粉末电阻率测试仪 |
| 产品型号： | HHY8-FZ-2010 |
| 品牌： | |
| 产品数量： | |
| 产品单价： | 面议 |
| 日期: | 2020-06-16 |
HHY8-FZ-2010 半导体粉末电阻率测试仪的详细资料
粉末电阻率测试仪/半导体粉末电阻率测试仪
型号；HHY8-FZ-2010
HHY8-FZ-2010半导体粉末电阻率测试仪是本公司根据能源方面，与其是锂电池的研究需求，开发的粉末电阻率测试仪。
本产品参照有关标准，配置粉末测试台或四探针测试台，可以对粉末、片状、块状半导体材料以 及固态金属进行电阻、电阻率、方块电阻等多用途测量。
测量范围：电阻10-4---106，分辨率1μΩ. ㎝。
电阻率 10-4---106，分辨率1μΩ. ㎝。
薄层电阻 10-3 ---- 107 Ω/□ ，分辨率10-5 Ω/□。
测量电压量程：0.2mv\2mv\20mv\200mv\2v，分辨率0.1μν，测量度 ±（0.3%读数+2字）。
测量电流：0--100mA 连续可调。电流量程 1μΑ、10μΑ、100μΑ、1mΑ、10mΑ、100mΑ。
粉末测量：1、试样粒度--标准筛网40目以上直至纳米材料。 2、试样容器---内腔φ16.30±0.1mm或φ6±0.1mm。 3、试样高度---16mm±0.5mm或6~20mm±0.1mm。测量误差±0.1mm。4、取样压力--4Mpa±0.5Mpa(40kg/cm2 ±0.5kg/cm2 )或8Mpa±0.5Mpa(80kg/cm2 ±0.75kg/cm2 )，压力量程--0~200kg可调。
固体薄膜及半导体测量：四探针测试架---1、探针间距1mm±0.03mm；2、探针游移率﹤±0.3%；3、可测材料尺寸--直径φ15~160mm，长度〈400mm。
显示方式：3½位数字显示电阻、电阻率、压力、高度。单位、小数点自动显示。
电源：220±10% 50HZ~60HZ 功率消耗〈150W。
外形尺寸： 440mm×120mm×420mm。