产品名称：	GSZ-HP-501 四探针探头
产品型号：	GSZ-HP-501
品牌：	663
产品数量：
产品单价：	面议
日期:	2020-06-05

GSZ-HP-501 四探针探头 的详细资料

四探针探头是一种测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

四探针探头 探头 型号：GSZ-HP-501

四探针探头是一种测量半导体薄层电阻（面电阻）的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

◆ 特性及规格：

1 特制之手握式探笔 2 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤 3 探头带抗静电模块有效止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏 4 探头使用寿命长 5 探针间距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；缘电阻≥500MΩ

型号 （Model）	曲率半径 （Radius）	压力 （loads）	探针间距 （spacing）	探针排列 （Arrangement）
GSZ-HP-501	0.5mm	100g	3.8mm	直线