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| 产品名称: | 少子寿命测试仪 型号:HAD-100A | 
| 产品型号: | HAD-100A | 
| 品牌: | 663 | 
| 产品数量: | |
| 产品单价: | 面议 | 
| 日期: | 2019-09-11 | 
少子寿命测试仪 型号:HAD-100A的详细资料
HAD-100A型微波光电导载流子复合寿命测试仪是参照半导体设备和材料组织SEMI标准MF1535-0707及标准GB/T 26068-2010。并且我单位是微波反射法标准起草单位。本设备采用微波反射无接触光电导衰退测量方法,适用于厚度为1mm以下的硅片、电池片少数载流子寿命的测量,提供无接触、伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况,是半导体的重要检测项目。
读数方式:数字直读。