您当前的位置:首页 » 产品展示 » 实验室专用设备 » 电阻率四探针测试仪 便携式四探针检测仪 HAD-WSP-51
产品名称: | 电阻率四探针测试仪 便携式四探针检测仪 HAD-WSP-51 |
产品型号: | HAD-WSP-51 |
品牌: | |
产品数量: | |
产品单价: | 面议 |
日期: | 2019-09-29 |
电阻率四探针测试仪 便携式四探针检测仪 HAD-WSP-51的详细资料
方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪 型号:HAD-WSP-51
HAD-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
本测试仪可赠设电池供电,适合手持式变动场合操作!
仪器参数设定、功能转换部采用一旋钮输入;具有零位、满度自校功能;自动转换量程;测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成,故定位、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。
三、基本参数
1. 测量范围、分辨率
电 阻: 1.0×10-2 ~ 2000 Ω, 分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10 Ω
电 阻 率: 1.0×10-3~ 2000 Ω-cm 分辨率0.1×10-2 ~ 0.1 Ω-cm
方块电阻: 1.0×10-3 ~ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1 ~ 0.1×10 Ω/□
2. 可测半导体材料尺寸(手持式)
直 径: 测试台直接测试方式 Φ15~130mm,其他方式不限.
长(或高)度: 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3. 量程划分及误差等
量程 |
2.000 |
200.0 |
20.00 |
2.000 |
200.0 |
kΩ-cm/□ |
Ω-cm/□ |
mΩ-cm/□ |
|||
基本误差 |
±1%FSB±2LSB |
±1.5%FSB ±4LSB |
4) 适配器工作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或电池供电
5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
净 重:≤0.5kg