低阻抗分析仪/表面阻抗测试仪 MCP-T370

低阻抗分析仪/表面阻抗测试仪 型号:MCP-T370

四探针方案-一触式的材料的表面电阻率测量。
查找只需按下启动按钮，确认自动测量功能，可自动保持当前的测量值。
电池寿命可以采用镍氢电池组可以方便地替换。
新增探头校准模式。检查探头校准片（另售），以确认Roresuta AX测试值的性。
测量数据可以导出到USB存储器。

规格
测量方法	四端四探针法 施加恒定电流的方法
测量范围	10 -2〜10 6 Ω
标准配置	四探针探头（ASP）AC适配器 说明书 检查确认书

选项

探头选项
类型	适用被测试样品	型号
ESP	对于异类样本	MCP - TP08P
PSP	小样本的薄膜	MCP - TP06P
QPP	对于小样本	MCP - TPQPP
TFP	有关硅晶片或玻璃基板薄膜	MCP - TFP

校准块	型号：MCP - TRF1